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概要

・業界最速の処理スピードで製品全面の厚さを
　リアルタイムに100％計測
・厚さ30um以下の透明な薄膜、塗膜を
　高精度に測定

※基材が透明でない素材でも上層や塗工層を
　測定可能な場合があります
※紙や金属など、表面が粗い基材の場合は、
　上層や塗工層でも測定できません

対象

ディスプレイ用フィルム、電子部材用フィルム、シリコンウェハー上膜、各種コーティングなど