全面厚さ計（仮称）

厚さ30um以下の透明な薄膜、塗膜を高精度に測定します。
基材が透明でない素材でも、上層や塗工層の測定が可能な場合があります。
紙や金属など、表面が粗い基材の場合には、上層や塗工層でも測定ができません。

ディスプレイ用フィルム、電子部材用フィルム、シリコンウェハー上膜、各種コーティングなど

全面インライン測定

• 従来のトラバース方式では不可能であった、製品全面の厚さ測定による品質保証が可能です。

• 検査装置では検出困難な欠点でも、厚さに起因するものであれば検知可能です。

• スポット性、周期性の厚さ異常の検知も可能です。

世界最速の処理技術

• FUTEC独自の高速処理により、インラインでのリアルタイム測定に適用できます。

多層測定に対応

• 4層までの多層測定に対応しており、層毎の厚さを同時に測定できます。

安心・安全

• 放射線を使用した厚さ計ではないため、管理者や管理資格が不要です。

測定ピッチ（幅）	標準 1.0mm
測定ピッチ（流れ）	1.0mm（搬送速度 18m/min時）
測定厚さ	30um以下（測定対象による）
最大測定層数	4層
測定精度	0.1 - 1.0%（測定対象による）
測定対象	透明な製品 (基材は不問)