2023.10.18 お知らせ 製品情報

新製品「全面膜厚測定ユニット」を掲載しました!

半導体向けのインライン膜厚測定ユニット「全面膜厚測定ユニット」を新たに掲載しました!
高度化する半導体プロセスに「In-situ」「全数」「全面」測定を採用することによって、お客さまのプロセス管理と品質管理をサポートします!
是非一度ご覧ください!

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