2023.09.15 全面膜厚測定ユニット 半導体業界向け。ウェハ全面を秒間30万点で測定可能。製造装置に組み込み可能なユニットタイプでIn-situの製造プロセスモニタリングを実現。 セミナー・イベント一覧へ戻る
